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Impact ionisation in Al0.9Ga0.1As0.08Sb0.92 for Sb-based avalanche photodiodes

机译:Sb基雪崩光电二极管在Al0.9Ga0.1As0.08Sb0.92中的碰撞电离

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摘要

We report the impact ionisation coefficients of the quaternary alloy Al0.9Ga0.1As0.08Sb0.92 lattice matched to GaSb substrates within the field range of 150 to 550 kV cm-1 using p-i-n and n-i-p diodes of various intrinsic thicknesses. The coefficients were found with an evolutionary fitting algorithm using a non-local recurrence based multiplication model and a variable electric field profile. These coefficients not only indicate that an avalanche photodiode can be designed to be function in the mid-wave infrared, but also can be operated at lower voltages. This is due to the high magnitude of the impact ionisation coefficients at relatively low fields compared to other III-V materials typically used in avalanche multiplication regions.
机译:我们报告了使用各种本征厚度的p-i-n和n-i-p二极管,在150至550 kV cm-1的电场范围内,与GaSb衬底匹配的四元合金Al0.9Ga0.1As0.08Sb0.92晶格的冲击电离系数。使用基于非局部递归的乘法模型和可变电场轮廓的演化拟合算法找到系数。这些系数不仅表明可以将雪崩光电二极管设计为在中波红外中起作用,而且还可以在较低电压下工作。这是由于与雪崩倍增区域中通常使用的其他III-V材料相比,在相对较低的电场下具有较高的冲击电离系数幅度。

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